IACLAB成员孔煜婷奔西安参加IEEE case2017
2017年8月21日-23日，IEEE自动化科学与工程国际会议（CASE 2017）在西安顺利召开。来自全球各地600多位高校、研究所和企业的学者参加了会议，本次会议主题定为“下一次工业革命的自动化”。IAClab成员孔煜婷参加了此次国际会议，并围绕会议主题做了题为“A Practical Yield Prediction Approach using Inline Defect Metrology Data for System-on-Chip Integrated Circuits”的相关学术展示。通过参与本次国际会议，同中外教师、学生进行了一定的交流与沟通，进一步拓展了研究视野，同时也对最新研究动态有了进一步的了解，达到学习与提高的目的。